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高低溫試驗箱就是在溫度的基礎上加濕熱系統，使做溫度的同時(shí)也可以做濕度測試，使試驗效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測樣品的可靠性更高。而且高低溫試驗箱在使用時(shí)要注意一些問(wèn)題，遵守一定的操作規范。那么高低溫試驗箱的測試步驟是怎樣的呢？下面是高天試驗設備的分享：

　　高低溫試驗箱的測試步驟：

　　1.預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩定。

　　2.初始檢測：將被測樣品與標準要求對照，符合要求后直接放入高低溫沖試驗箱內即可。

　　3.開(kāi)始試驗：

　　A、在樣品斷電的狀態(tài)下，試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內，先將試驗箱（室）內溫度下降到-50℃，保持4個(gè)小時(shí)；請勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試，這一步非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會(huì )產(chǎn)生 20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測試。

　　B、低溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節到90℃的高溫試驗箱（室）內，保持4h或者直至試驗樣品達到溫度穩定，與低溫測試相反，升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執行A、B測試步驟。

　　C、進(jìn)行老化測試，觀(guān)察是否有數據對比錯誤。

　　E、高溫和低溫測試分別重復10次。

　　F、重復上述實(shí)驗方法，以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì )略有誤差。

　　G、恢復：試驗樣品從試驗箱內取出后，應在正常的試驗大氣條件下進(jìn)行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩定。

　　H、后檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測結果評定。

　　如果測試過(guò)程出現任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。

　　以上關(guān)于高低溫試驗箱的測試步驟就為大家分享到這里，高低溫試驗箱是用于電工、bai電子及其他產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行高溫或低溫試驗，檢測其產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時(shí)的適應性;其測試方式主要還是要根據GB/T10592-2008的試驗標準進(jìn)行。